课题主要简介: 本项目采用第一性原理的计算方法,对二维体系的MgO、SnO2、石墨烯、h-BN材料,以及c-ZrO2、HfO2、GaN等材料展开了电子结构方面的系统研究。研究发现,氧空位VO并不能在MgO表面引入局域磁矩,而镁空位VMg是导致该体系d0铁磁性的根源;元素C、N掺杂MgO表面的结果显示N掺杂该体系比C更适合自旋电子材料;过渡金属元素Co掺杂MgO表面能产生稳定的自旋电子态,而Ni元素不能引入局域磁矩;无论是Ni还是Co,当掺入体材料MgO中时均能引入局域磁性态。SnO2的非磁性掺杂结果表明无论是C元素还是N元素之间,不同距离的磁性耦合均为反铁磁为主。石墨烯的Co、Ni掺杂研究表明,单掺情况下体系的基态均不是铁磁的。Co、Ni无论是掺杂BN单层,还是ZrO2材料,只有Ni掺杂的材料适合做自旋电子器件。此外,对HfO2以及GaN的点缺陷也进行了较深入的研究。 |